【導(dǎo)讀】剛?cè)隕MC坑的很多小伙伴，在面對(duì)EMC問題，很多時(shí)候應(yīng)該都會(huì)覺的無從下手，或者毫無頭緒。至此，為何不反過來從測試得出的數(shù)據(jù)進(jìn)行推測分析，下面就列舉幾個(gè)常見的EMI輻射問題分析思路。
一 有規(guī)律的單支信號(hào)
有規(guī)律的單支信號(hào)，大部分都是時(shí)鐘信號(hào)。因?yàn)闀r(shí)鐘是一個(gè)穩(wěn)定的單一頻率信號(hào)，所以在頻率上呈現(xiàn)為一根根的單支，且DB也不會(huì)太低，大多數(shù)時(shí)鐘超標(biāo)的同時(shí)，它的倍頻也會(huì)呈現(xiàn)相應(yīng)的狀態(tài)。
因此，在分析數(shù)據(jù)的時(shí)候，只要對(duì)比每個(gè)單支之間的差數(shù)，基本可以確定問題點(diǎn)。例如：48.15MHZ的時(shí)鐘問題！最后6號(hào)點(diǎn)和5號(hào)點(diǎn)的頻率是337.05 MHz與385.2 MHz[385.2-337.05=48.15],且第11號(hào)點(diǎn)為 963MHz=48.15MHz X 20。
在確定問題點(diǎn)后，再在原理圖上或者PCB圖上，找到相關(guān)時(shí)鐘信號(hào)，然后在電路板上用頻譜進(jìn)行排查和確認(rèn)，可以很快確定問題電路并進(jìn)行改正。例如下圖就是利用頻譜在EUT上實(shí)測得到的頻譜圖，與上圖測試數(shù)據(jù)的點(diǎn)基本吻合。[143.58MHz=48.15MHz X 3]
對(duì)于此類問題可以采用展頻方法來進(jìn)行改善，效果也是十分明顯。
二 低頻大波浪信號(hào)
除開時(shí)鐘信號(hào)的單支問題外，常見的還有低頻大包絡(luò)，如上圖所示，這類低頻大包絡(luò)一般對(duì)應(yīng)的是離散信號(hào)，也就是頻率變化范圍比較大，且頻率比較低的電路。綜合上述，一般都是低頻信號(hào)電路，例如電源電路。
上圖是一開關(guān)電源在整機(jī)中的EMI測試數(shù)據(jù)圖，仔細(xì)觀察可以發(fā)現(xiàn)此圖中，“低頻”段的噪聲整體偏高，對(duì)電源模塊單獨(dú)進(jìn)行測試，數(shù)據(jù)如下圖所示，兩圖的峰值線基本一直，所以可以鎖定問題點(diǎn)就是電源問題。
三 雜散無規(guī)律信號(hào)
此外，還有一類波形，如上圖所示，雜亂無章，且整體DB都較高，比較常見的就有有刷電機(jī)產(chǎn)生的噪聲。這類問題比較難以直接下手，需要一步一步進(jìn)行分析判斷。
此類現(xiàn)象主要是由于電機(jī)內(nèi)部碳刷在不斷的換向拉弧所產(chǎn)生，整改手段比較常見的就是加電容電感，但是電容與電感的搭配使用也不能有效的抑制這類整體超標(biāo)都很嚴(yán)重的波形。
在此基礎(chǔ)上，可以針對(duì)高頻部分再進(jìn)行二級(jí)濾波，這里使用BDL進(jìn)行二級(jí)濾波后，測試發(fā)現(xiàn)整體數(shù)據(jù)都有所下降。
四 整體底噪高
還有一類波形與電機(jī)波形很類似，數(shù)據(jù)卻沒有那么雜亂無章， 但是整體底噪都偏高。
在對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行分析的時(shí)候發(fā)現(xiàn)兩個(gè)模塊僅有單點(diǎn)GND進(jìn)行接觸，且板子本身跨度較大，對(duì)其進(jìn)行多點(diǎn)接地后，測試發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)有明顯下降！
為此面對(duì)EMC問題不要過于迷茫和畏懼，試著從結(jié)果進(jìn)行逆向分析，一步一步的鎖定解決問題。在面對(duì)人生困難時(shí)，亦是如此，不要畏懼和退縮，一點(diǎn)一點(diǎn)的解決戰(zhàn)勝它。
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