【導(dǎo)讀】集成電路型號(hào)很多，內(nèi)部電路千變?nèi)f化，故檢測(cè)集成電路的好壞較為復(fù)雜。下面介紹一些常用的集成電路的好壞檢測(cè)方法。
集成電路型號(hào)很多，內(nèi)部電路千變?nèi)f化，故檢測(cè)集成電路的好壞較為復(fù)雜。下面介紹一些常用的集成電路的好壞檢測(cè)方法。
開路測(cè)量電阻法
開路測(cè)量電阻法是指在集成電路未與其他電路連接時(shí)，通過測(cè)量集成電路各個(gè)引腳與接地引腳之間的電阻來判別好壞的方法。
集成電路都有一個(gè)接地引腳（GND），其他各個(gè)引腳與接地引腳之間都有一定的電阻，由于同型號(hào)的集成電路內(nèi)部電路相同，因此同型號(hào)的正常集成電路的各個(gè)引腳與接地引腳之間的電阻均是相同的。根據(jù)這一點(diǎn)，可使用開路測(cè)量電阻的方法來判別集成電路的好壞。
在檢測(cè)時(shí)，萬用表?yè)苤罵×100擋，紅表筆固定接被測(cè)集成電路的接地引腳，黑表筆依次接其他各個(gè)引腳，如圖16—4所示，測(cè)出并記下各個(gè)引腳與接地引腳之間的電阻，然后用同樣的方法測(cè)出同型號(hào)的正常集成電路的各個(gè)引腳對(duì)地電阻，再將兩個(gè)集成電路各引腳對(duì)地電阻一一對(duì)照，如果兩者完全相同，則被測(cè)集成電路正常，如果有引腳電阻 差距很大，則被測(cè)集成電路損壞。在測(cè)量各個(gè)引腳電阻時(shí)萬用表選用同一擋位，如果因某個(gè)引腳電阻 過大或過小難以觀察而需要更換擋位時(shí)，則測(cè)量正常集成電路的該引腳電阻時(shí)也要換到該擋位。這是因?yàn)榧呻娐穬?nèi)部大部分是半導(dǎo)體元件，不同的歐姆擋提供的電流不同，對(duì)于同一個(gè)引腳，使用不同歐姆擋測(cè)量時(shí)內(nèi)部元件導(dǎo)通程度有所不同，故不同的歐姆擋測(cè)LM324N 同一個(gè)引腳得到的阻值可能有一定的差距。
采用開路測(cè)量電阻法判別集成電路的好壞比較容易，并且對(duì)大多數(shù)集成電路都適用，其缺點(diǎn)是檢測(cè)時(shí)需要找一個(gè)同型號(hào)的正常集成電路作為對(duì)照，解決這個(gè)問題的方法是平時(shí)多積累測(cè)量一些常用集 成電路的開路電阻的數(shù)據(jù)，以便以后檢測(cè)同型號(hào)集成電路時(shí)作為參考，另外也可查閱一些資料來獲得這方面的數(shù)據(jù)。圖16—5所示是一種常用的內(nèi)部有4個(gè)運(yùn)算放大器的集成電路LM324，表16—1中列出了其開路電阻數(shù)據(jù)，測(cè)量使用數(shù)字萬用表的200k2擋，
表中有兩組數(shù)據(jù)，一組為紅表筆接11腳（接地腳）、 黑表筆接其他各個(gè)引腳測(cè)得的數(shù)據(jù)，另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各個(gè)引腳測(cè)得的數(shù)據(jù)，在檢 測(cè)LM324的好壞時(shí)，也應(yīng)使用數(shù)字萬用表的200k輸出輸出3 擋，再將實(shí)測(cè)的各個(gè)引腳數(shù)據(jù)與表中數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照。
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