中心議題:
- 手機(jī)ESD和EMI防護(hù)設(shè)計
- 手機(jī)EMI抗干擾功能
解決方案:
- 全新的單線保護(hù)
- ESD陣列優(yōu)化PCB面積
- 超高速數(shù)據(jù)線路保護(hù)
- 手機(jī)EMI濾波器設(shè)計
最新的無線終端產(chǎn)品大多數(shù)都裝備了高速數(shù)據(jù)接口、高分辨率LCD屏和相機(jī)模塊,甚至有些手機(jī)還安裝了通過DNB連接器接收電視節(jié)目的功能。除增加新的功能外,手機(jī)尺寸的挑戰(zhàn)依然沒有變化,手機(jī)還在向小巧、輕薄方向發(fā)展。眾多功能匯聚在一個狹小空間內(nèi),導(dǎo)致手機(jī)設(shè)計中的ESD和EMI問題變得更加嚴(yán)重。這些問題必須在手機(jī)設(shè)計的最初階段解決,并需要按照應(yīng)用選擇有效的解決辦法。
ESD和EMI防護(hù)設(shè)計的新挑戰(zhàn)
傳統(tǒng)的ESD保護(hù)或EMI濾波功能是由分立或無源器件解決方案占主導(dǎo)地位,例如,防護(hù)ESD的變阻器或防護(hù)EMI的基于串聯(lián)電阻和并聯(lián)電容器的PI型濾波結(jié)構(gòu)。手機(jī)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的提高和新型IC的高EMI敏感度促使設(shè)計人員必須提高手機(jī)的抗干擾能力,因此某些方案的技術(shù)局限性已顯露出來了。
簡單比較變阻器和TVS二極管的鉗位電壓Vcl,就可以理解傳統(tǒng)解決方案的局限性。變阻器的鉗位電壓Vcl(8/20ms@Ipp=10A測試)顯示大約40V,比TVS二極管的Vcl測量值高60%。當(dāng)必須實施IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)時,要想實現(xiàn)整體系統(tǒng)的穩(wěn)健性就不能怱視這種差別。除這個內(nèi)在的電壓差問題外,在手機(jī)使用壽命期內(nèi),隨著老化現(xiàn)象的出現(xiàn),無源器件解決方案還暴露出電氣特性變化的問題。
因此,TVS二極管解決方案在ESD保護(hù)市場占據(jù)很大的份額,同時集成化的硅解決方案也是EMI濾波器不可或缺的組件。
是采用單線TVS還是ESD陣列保護(hù)?
關(guān)于某些充分利用ESD保護(hù)二極管的布局建議,我們通常建議盡可能把ESD二極管放置距ESD干擾源最近的地方。最好放在I/O接口或鍵盤按鍵的側(cè)邊。因此,在選擇正確的保護(hù)方法之前必須先區(qū)分應(yīng)用形式。
以鍵盤應(yīng)用為例,因為ESD源是一個含有多個觸點(diǎn)的大區(qū)域,最好是設(shè)計類似于單線路TVS的保護(hù)組件,圍繞電路板在每個按鍵后放置一個ESD二極管。如果采用陣列設(shè)計,保護(hù)功能將得到保證,但是這種設(shè)計將會受到潛在的ESD問題的影響,例如二條線路之間的輻射問題。在這種情況下,手機(jī)內(nèi)部的ESD干擾控制并沒有被全面優(yōu)化。
全新的單線保護(hù)
正當(dāng)單線保護(hù)器件被廣泛用于抑制ESD放電時,一種在同一封裝內(nèi)集成兩個并聯(lián)二極管的兩級鉗位概念產(chǎn)生了。圖1對傳統(tǒng)的單線ESD保護(hù)與新型兩級鉗位二極管組件進(jìn)行了對比。
與目前的單線ESD保護(hù)二極管相比,這種創(chuàng)新將ESD防護(hù)性能進(jìn)一步提高了。如果實施ESD放電,當(dāng)在該IC輸入端上施加15kV空氣放電時,兩個鉗位級確保輸出端殘留最少的放電電壓。
與單ESD解決方案相比,當(dāng)施加15kV放電電壓時,并聯(lián)兩個二極管的方案將輸出殘余電壓降低40%。此外,意法半導(dǎo)體(ST)開發(fā)的新封裝SOD882還有助于節(jié)省PCB空間,因為即便內(nèi)置兩個二極管,每線僅占用面積0.6mm2。同時,封裝高度在0.4到0.5mm之間,特別適合纖薄型和滑板手機(jī)。
圖1:單ESD保護(hù)概念與雙鉗位二極管對比[page]
雖然單ESD二極管在鍵盤應(yīng)用中找到了適合自己的位置,但是我們不妨介紹一下二極管陣列解決方案。在多條數(shù)據(jù)線路通過一個獨(dú)特的連接器被集中在一點(diǎn)的情況中,ESD陣列二極管通常被用于節(jié)省電路板空間,提高連接器保護(hù)功能的穩(wěn)健性。SIM卡連、手機(jī)底座連接器、外部存儲卡、手機(jī)連接器等都是這種情況,如圖2所示。
圖2:ESD二極管陣列保護(hù)的Tflash連接器
ESD陣列優(yōu)化PCB面積
ESD二極管陣列解決方案的最大優(yōu)點(diǎn)是,在一個外部尺寸極小的封裝內(nèi)提供4個或5個TVS二極管。實際上,這是保護(hù)整個I/O連接器所必須的,因為ESD干擾的入口點(diǎn)通常集中于一個相對較小的面積上。
ESD保護(hù)二極管被焊接在I/O連接器附近,用于防止61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的8kV接觸放電和15kV空氣放電時所產(chǎn)生的任何損壞。這意味著當(dāng)通過一個330Ω電阻給一個150pF電容放電時,ESD保護(hù)二極管能夠抵抗15kV的電壓。
ST最近擴(kuò)充了保護(hù)二極管陣列產(chǎn)品線,推出了一個名為M6的微型封裝。新產(chǎn)品比現(xiàn)有的SOT323和SOT666節(jié)省PCB空間高達(dá)75%和45%。
超高速數(shù)據(jù)線路保護(hù)
按照目標(biāo)應(yīng)用的信號傳輸速度選擇TVS二極管是設(shè)計高效ESD保護(hù)功能的關(guān)鍵之一?;旧?,前面提及的信號的數(shù)據(jù)傳輸速率越高,ESD保護(hù)二極管的電容就要求越低。
因此,必須把保護(hù)組件在電流信號上產(chǎn)生的干擾降至最低。這與TVS二極管的寄生電容有直接的關(guān)聯(lián)。例如,在USB2.0的情況中,因為數(shù)據(jù)傳輸速率達(dá)到480Mbps,所以需要ESD保護(hù)組件的電容極低。
實驗室的測量結(jié)果顯示,寄生線電容高于3.5pF的ESD保護(hù)二極管可能會在高速數(shù)據(jù)傳輸時產(chǎn)生很大的信號干擾。結(jié)果可能導(dǎo)致USB2.0收發(fā)器無法正常讀取數(shù)據(jù)。而對于USB1.1接口,寄生電容大約50pF的二極管并不會構(gòu)成任何數(shù)據(jù)完整性問題。這就是USB2.0的ESD保護(hù)組件的額定寄生電容在0V時通常要求低于3pF的主要原因。
USBULC6-2P6就是專門為滿足高速數(shù)據(jù)接口的需求而開發(fā)的。這個產(chǎn)品的主要功能是保護(hù)USB接口。所有引腳都符合要求最嚴(yán)格的IEC61000-4-2第4級ESD標(biāo)準(zhǔn)。典型線路電容是2.5pF,保證低于3.5pF,可完全滿足USB接口的所有設(shè)計要求。
兩條數(shù)據(jù)線路之間的差分電容均衡性是設(shè)計人員必須考慮的另一個特性。因此設(shè)計人員可以給電容參數(shù)差量極小的數(shù)據(jù)線路設(shè)計極其相似的組件。這是硅二極管的一個十分顯著的優(yōu)點(diǎn),因為變阻器的電容偏差大約10%到20%。
新的收發(fā)機(jī)發(fā)射信號的速度非???,同時耗電也越來越大,為了有助于優(yōu)化電池使用壽命,超低電容的ESD保護(hù)二極管的漏電流被降低到1微安以下。
除保護(hù)兩條數(shù)據(jù)線路外,還必須保護(hù)Vbus線路。這是這個特殊的保護(hù)器件的另一個增值之處,因為它保護(hù)D+、D-和Vbus三條線路。專用的TVS二極管在相同的條件下像保護(hù)數(shù)據(jù)線路一樣保護(hù)Vbus線路,防護(hù)ESD浪涌。
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因為手機(jī)還有空間的限制因素,所以USB2.0的三條線路ESD防護(hù)不得超過SOT666封裝尺寸。USB2.0專用ESD防護(hù)電路見圖3。
圖3:USB2.0保護(hù)拓?fù)?/p>
圖3所示的軌對軌保護(hù)概念是效率最高的高速數(shù)據(jù)線路ESD防護(hù)概念,是速率每秒480Mbits高速串行線路的最佳折衷方案,它兼顧了數(shù)據(jù)完整性、信號均衡性、低功耗和最嚴(yán)格的ESD標(biāo)準(zhǔn)。
手機(jī)EMI抗干擾功能
在某情況下,ESD問題并不是工程師要解決的唯一問題。因為手機(jī)發(fā)射和傳送RF信號時,很多電子組件受到RF輻射,因此,必須抑制RF輻射以保護(hù)正常的工作。甚至在某些情況下,某些IC自己也會產(chǎn)生RF輻射以及射頻干擾。
基本上,很多接口都會容易受到GSM脈沖的攻擊,如音頻線路或LCD或相機(jī)模塊,產(chǎn)生能夠聽見的噪聲或可以看見的屏幕抖動。這就是在設(shè)計手機(jī)時強(qiáng)烈推薦EMI濾波器的原因。
在某種意義上,EMI輻射抑制已成為下一代手機(jī)如多頻手機(jī)或3G手機(jī)的關(guān)鍵問題,因為現(xiàn)有解決方案即將達(dá)到技術(shù)極限。
采用分立的電阻和電容的單一阻容PI型濾波器設(shè)計不再是節(jié)省空間的解決方案。此外,因為衰減帶寬很窄,阻容濾波器的濾波性能極差。對于空間限制極嚴(yán),工作頻率擴(kuò)大幾個頻段的多頻手機(jī)和3G手機(jī),這類濾波器的缺陷明顯。
設(shè)計師開始關(guān)注衰減大和衰減頻帶寬的低通濾波器,以硅為材料的集成EMI濾波器是適合所有這些需求的濾波器,它表現(xiàn)出極寬的衰減范圍,從800MHz到2GHz或3GHz,S21參數(shù)超過30db等。同時,這些濾波器可針對高速數(shù)據(jù)應(yīng)用實現(xiàn)低寄生電容結(jié)構(gòu)和超小的PCB空間。
硅EMI濾波器:LC型還是RC型?
對上文提及的兩種技術(shù)的純?yōu)V波性能進(jìn)行對比,在某種意義上我們看見相似的濾波特性,兩種結(jié)構(gòu)都表現(xiàn)出極寬的抑制頻帶。這些主要特性的取得歸功于能夠最大限度降低濾波器(無論是RC還是LC型)的寄生電感的集成概念。
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然后,LC濾波器能夠優(yōu)化低頻的插入損耗。與RC濾波器相比,濾波特性在技術(shù)規(guī)格中確實存在明顯的差別。但是考慮到特性曲線是在50Ω環(huán)境中測量到的,設(shè)計師可能注意到,在應(yīng)用條件下,因為多數(shù)IC是高阻抗元器件,RC濾波器的串聯(lián)電阻或LC濾波器的串聯(lián)電感對插入損耗的影響可忽略不計。因此,即使在濾波器技術(shù)規(guī)格中看到插入損耗的差異,這個差異也不真地適合應(yīng)用條件。
盡管如此,我們可以使RC或LC濾波器信號傳輸能力實現(xiàn)差異化。特別是在高頻下,LC濾波器可能具有RC濾波器絕對沒有的某些振蕩效應(yīng)。這些寄生振蕩可能會干擾信號甚至?xí)a(chǎn)生比RC濾波器更長的延遲時間。圖4所示是通過硅LC濾波器進(jìn)行的信號傳輸測試,從圖中可以看到振蕩效果。
最后,EMI濾波器是使用硅RC還是LC,兩者之間沒有明顯的性能差異,因為它們的特性在實際應(yīng)用中基本相同,低阻抗環(huán)境除外。順便提及一下,考慮到現(xiàn)有的硅技術(shù),電阻的集成密度比電感器高出很多。因此,LC濾波器的制造成本高于RC濾波器。
現(xiàn)在讓我們對比無源LC濾波器和硅RC濾波器,大家熟知的兩者之間的差異是,無源技術(shù)基于集成變阻器(而硅濾波器集成的是二極管)。因此,這種濾波器不如硅RC濾波器耐用,同時過濾特性類似于分立電容器,這意味著抑制頻帶尖而窄,不能為新一代多頻手機(jī)100%優(yōu)化。
濾波器的RC耦合是設(shè)計人員必須精心選擇的首要特性,本質(zhì)上說,應(yīng)用的信號傳輸速度越快,濾波器線路的總電容就應(yīng)該越小。
因此,對于UART、RS232或音頻線路,標(biāo)準(zhǔn)電容在幾百個pF范圍內(nèi)的EMI濾波器足以確保優(yōu)秀的濾波性能和最小的信號干擾。
對于高速接口像LCD或CMOS傳感器,濾波器的寄生電容對視頻信號完整性的影響很大,所以電容值必須降到最低限度,幾十個兆赫茲的頻率,電容必須小于20pF。
這又帶來了新的問題,因為濾波器的濾波性能會因為本身電容變小而降低。
因為最近的半導(dǎo)體設(shè)計,現(xiàn)在市場上出現(xiàn)了超低電容EMI濾波器結(jié)構(gòu),以及超高衰減量、寬帶抑制和符合IEC61000-4-2第4級的ESD保護(hù)功能。意法半導(dǎo)體是市場上率先推出電容超低、抑制帶寬極大并符合IEC61000-4-2第4級安全標(biāo)準(zhǔn)的濾波器結(jié)構(gòu),EMIF08-VID01F2在800MHz到3GHz頻帶內(nèi)可以實現(xiàn)30dB以上的衰減抑制,同時在3V工作電壓時其線電容只有17pF。
要想取得最佳的濾波性能,除考慮硅產(chǎn)品本身的特性外,還要考慮組件的封裝和布局,這就是大多數(shù)基于硅的EMI濾波器采用400um管腳間距的倒裝片封裝或microQFN封裝的原因。微型封裝的主要優(yōu)勢之處是寄生電感影響小,從而最大限度地提高了高頻下的衰減特性;其次微型封裝尺寸小,有助產(chǎn)品的微型化趨勢。
400um管腳間距還可簡化和最小化濾波器與I/O連接端子之間的布局連接,因此,使用管腳間距較小的新封裝有助于提高PCB+布局+濾波器的系統(tǒng)整體性能。圖5所示是ST的一個超小濾波器的簡圖。
與分立的電容和電阻占用的PCB電路板空間相比,像EMIF08這樣的倒裝片和mQFN封裝的硅濾波器可節(jié)省PCB空間近70%,將組件數(shù)量從18個減少到1個,同時還能維持或降低應(yīng)用的整體成本。
最后,RC硅濾波器是一個具有競爭力的解決方案,其過濾性能、ESD保護(hù)和PCB空間占用超過了分立解決方案。除單純的性能對比外,集成解決方案更適合新一代手機(jī)對寬衰減帶寬和高密度集成電路板的需求。
本文小結(jié)
在手機(jī)設(shè)計的初始階段,ESD和EMI問題變得越來越突出,必須根據(jù)實際應(yīng)用選擇專門的方法來解決ESD和EMI問題。雖然保護(hù)組件本身的性能十分關(guān)鍵,但是布局考慮也有助于提高系統(tǒng)的整體防護(hù)性能。