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泰克SuperSpeed測試解決方案幫助NEC電子獲得世界首項USB 3.0認證

發(fā)布時間:2010-01-27 來源:電子元件技術網(wǎng)

產(chǎn)品特性產(chǎn)品圖片
  • 泰克AWG7122B可提供無可比擬的信號生成靈活度
應用范圍:
  • 幫助NEC電子獲得世界首項USB 3.0認證
  • 測試測量

全球示波器市場的領導廠商—泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB解決方案為NEC電子符合USB 3.0標準的主機提供信號質量監(jiān)測,該主機是世界首款獲得USB設計者論壇USB 3.0認證的產(chǎn)品。

作為設計和生產(chǎn)集成電路的全球領導企業(yè),NEC電子選擇與泰克合作,驗證其新的硅元件以滿足新興的SuperSpeed USB標準(USB3.0)要求。USB技術已經(jīng)迅速被公認為連接電腦及外設的行業(yè)標準,與其它先進的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比,USB 3.0的性能可以支持高達5Gbps的數(shù)據(jù)速率,如此高的性能為測試測量帶來了更復雜的挑戰(zhàn)。為解決這些挑戰(zhàn),必須使用高性能、高靈活度的測量設備,以及能夠加快和簡化設計、測量和分析過程的工具。借助泰克USB 3.0測試解決方案,NEC電子這類企業(yè)的工程師們可以對USB設備進行檢定、調試和一致性測試,自動實現(xiàn)余量和一致性測試。對關鍵的USB 3.0接收機余量測試,泰克AWG7122B任意波形發(fā)生器則可提供無可比擬的信號生成靈活度,可以幫助客戶更快地把符合USB 3.0標準的產(chǎn)品推向市場。

泰克公司技術解決方案部市場經(jīng)理Dave Slack表示:“泰克一直與NEC電子保持密切合作,共同驗證、測試和調試SuperSpeed USB。今天,我們非常榮幸能為NEC電子的產(chǎn)品開發(fā)做出貢獻,從而使其在業(yè)內率先獲得USB 3.0認證。”

泰克USB 3.0解決方案
泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于一整套可提供優(yōu)異的測量性能,滿足高速串行協(xié)議需求的儀器,包括實時和采樣示波器、任意波形發(fā)生器等。例如,DSA71254B實時示波器提供了高帶寬和低噪聲環(huán)境,可準確地捕獲和分析快速串行信號時鐘速率。對一致性測試中的眼圖分析和余量測試,匹配的示波器采集系統(tǒng)變得至關重要。與其類似的是,AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復雜的波形,可以模擬傳輸路徑的劣化效應,支持接收機測試。這些硬件工具與專業(yè)應用軟件配合使用,如DPOJET抖動和眼圖分析工具、SerialXpress高級抖動生成工具和TekExpress™ USB 3.0自動一致性測試軟件等,為工程師檢驗和調試設計提供了所需的工具。更多泰克即時信息,請登錄 Twitter, 參看– @tektronix

關于泰克公司
60多年以來,工程師們不斷向泰克尋求測試,測量和監(jiān)測解決方案,以應對設計挑戰(zhàn),提高生產(chǎn)效率,大幅縮短產(chǎn)品上市時間。泰克公司是一家領先的測試儀器提供商,為專注于電子設計、制造及先進技術開發(fā)的工程師提供支持。泰克公司的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓,為全球范圍內的客戶提供備受贊譽的服務和支持。獲得前沿技術,請登陸www.tektronix.com.cn。
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