產品特性：

• 2.8Gb/s（68通道）和1.4Gb/s（136通道）兩種狀態(tài)捕獲速率
• 20 ps 掃描時間分辨率
• 20 mV 分辨率

應用范圍：

• 邏輯分析儀

安捷倫科技公司日前宣布為其業(yè)界最快的邏輯分析儀 Agilent U4154A 提供一款低價位、入門級 1.4 Gb/s 狀態(tài)模式選件。

該款新選件具有 2.8 Gb/s（68 通道）和 1.4 Gb/s（136 通道）兩種狀態(tài)捕獲速率以及 20 ps 掃描時間分辨率和 20 mV 分辨率，可穩(wěn)定地捕獲眼圖張開最小為 160 ps * 160 mV 的數據。

為滿足工程師對狀態(tài)模式數據速率的更高要求，該選件的捕獲速率可升級至 4 Gb/s（68 通道）和 2.5 Gb/s（136 通道）。憑借這些功能，工程師能夠測量新興技術中越來越快的數字信號。

Agilent U4154A 基于AXIe機箱的邏輯分析儀模塊及其相關探頭和功能強大的分析軟件可提供各種關鍵能力，便于工程師使用 DDR（雙倍數據速率）和低功耗 DDR 存儲系統、高速特定應用集成芯片、模數轉換器和高達 4 Gb/s 的現場可編程門陣列(FPGA)。

業(yè)界最快的觸發(fā)序列器速度——1.4 GHz（選件 01G）和 2.5 GHz（選件 02G）——可使工程師對序列事件進行可靠地觸發(fā)，且不會降低觸發(fā)的靈活性。

安捷倫在電子設備工程聯合委員會(Joint Electronic Devices Engineering Council)及其它 JEDEC DDR 委員會的代表 Perry Keller 表示：“U4154A 使工程師更有把握進行狀態(tài)模式捕獲和深入分析總線電平信號完整性，因而成為 DDR 存儲測量和調試工作的理想工具。”

在高速測量中，信號完整性驗證成為獲得可靠性能的關鍵。在U4154A上的Agilent獨有的 眼圖掃描專利技術可代替上述方法，使工程師在短時間內完成 DDR 系統全部信號完整性的掃描。U4154A 能夠迅速識別故障信號以節(jié)省時間，使工程師專注于使用示波器對最受關注的信號進行探測。

作為同步狀態(tài)分析測試的補充的定時縮放(Timing Zoom)具有 80 ps 的定時分辨率以及 256 K 的采樣存儲深度，允許進行超過 20 us 時間間隔的同步狀態(tài)和高分辨率定時測量，從而使設計師對問題進行更深入地分析。此外，U4154A 還分別針對全通道和半通道提供 2.5 GHz 和 5 GHz 定時和跳變定時模式。

U4154A 邏輯分析儀的軟件和探頭可幫助工程師們完成他們的測量任務：

• Agilent B4622A DDR2/3 協議一致性和分析軟件能夠在極深的 DDR 總線波形上完成自動測量，從而幫助工程師快速確定協議問題區(qū)域。
• 安捷倫及其合作伙伴為 U4154A 提供了一系列可兼容的探測解決方案，包括 DDR BGA 探頭和內插式探頭(Interposer)以及適用于中間總線(Mid-bus)探測的安捷倫軟接觸探頭。

U4154A 邏輯分析儀模塊可兼容 Agilent M9502A 雙插槽 AXIe 機箱。多個模塊可使用同一時基和觸發(fā)序列器。多個模塊系統（包括 Agilent 16900 系列主機）可以聯合對某一系統中的多個總線進行時間相關測量。

U4154A 將于 9 月 27 日至 28 日在美國馬薩諸塞州波士頓市舉辦的 DesignCon 東部會議上展示。