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2657A:吉時(shí)利發(fā)布為測(cè)試優(yōu)化的高電壓數(shù)字源表

發(fā)布時(shí)間:2012-03-29

產(chǎn)品特性:
  • 具有1fA分辨率
  • 能快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行亞皮安級(jí)電流測(cè)量
應(yīng)用范圍:
  • 適于高速瞬態(tài)分析
  • 適于高達(dá)3000V的電子器件上故障測(cè)試和漏電測(cè)試

美國(guó)俄亥俄州克里夫蘭,2012年3月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數(shù)字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測(cè)量單元數(shù)字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時(shí)利客戶分析范圍更寬的功率半導(dǎo)體器件和材料。2657A內(nèi)建3,000V、180W源,支持以極低的成本向被測(cè)器件輸出5倍于最接近競(jìng)爭(zhēng)系統(tǒng)的功率,并且,構(gòu)建至2657A的精密、高速6位半測(cè)量引擎的1fA(飛安)電流測(cè)量分辨率滿足了下一代功率半導(dǎo)體器件的低漏電要求。

2657A專門做了這些優(yōu)化:二極管、FETs和IGBTs等功率半導(dǎo)體器件的高壓測(cè)試應(yīng)用以及氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)等新材料及其它復(fù)合半導(dǎo)體材料和器件的特性分析。而且,2657A還適于高速瞬態(tài)分析以及在高達(dá)3000V的各種電子器件上進(jìn)行故障測(cè)試和漏電測(cè)試。

類似于2600A系列的其它產(chǎn)品,2657A提供了極高的靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載,外加精密電壓計(jì)和電流計(jì)。2657A在一個(gè)全機(jī)架機(jī)箱中整合了多種儀器功能:半導(dǎo)體特性分析儀、精密電源、真電流源、6位半DMM、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載和觸發(fā)控制器,而且通過(guò)吉時(shí)利的TSP-Link®技術(shù)完全可擴(kuò)展至多通道、緊同步系統(tǒng)。與功率相對(duì)有限的同類競(jìng)爭(zhēng)方案所不同的是,2657A的源或阱能力高達(dá)180W直流功率(±3,000V@20mA,±1500V@120mA)。而且,2657A具有1fA分辨率,甚至在輸出3000V高壓的同時(shí)還能快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行亞皮安級(jí)電流測(cè)量。

數(shù)字化或集成測(cè)量模式

對(duì)于瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性分析(包括快速變化的熱效應(yīng))而言,2657A可以選擇數(shù)字化測(cè)量模式或集成測(cè)量模式。每種模式由兩個(gè)獨(dú)立的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)定義:一個(gè)用于電流,另一個(gè)用于電壓,這兩個(gè)ADC同步工作并在不犧牲測(cè)試吞吐量的前提下確保源回讀的準(zhǔn)確性。數(shù)字化測(cè)量模式的18bit模數(shù)轉(zhuǎn)換器支持1毫秒每點(diǎn)的采樣,使用戶能同步采樣電壓和電流瞬時(shí)值。反之,競(jìng)爭(zhēng)方案通常須對(duì)多個(gè)讀數(shù)取平均值后得出結(jié)果,所以競(jìng)爭(zhēng)方案的瞬態(tài)特性分析速度不夠快。基于22bit模數(shù)轉(zhuǎn)換器且為整個(gè)2600A系列儀器所共有的集成測(cè)量模式,優(yōu)化了2657A在需要最高測(cè)量準(zhǔn)確度和分辨率應(yīng)用中的操作,確保了下一代功率半導(dǎo)體器件常見的極低電流和極高電壓的高精密測(cè)量。

強(qiáng)大的測(cè)試開發(fā)工具

無(wú)需安裝軟件或使用吉時(shí)利基于LXI的I-V測(cè)試軟件工具TSP Express編程就能實(shí)現(xiàn)基本的器件特性分析。用戶只需將PC連接至LXI LAN端口并用任意支持Java的Web瀏覽器即能訪問(wèn)TSP Express。測(cè)試結(jié)果可以用圖形方式或列表方式查看,然后導(dǎo)出為電子表格應(yīng)用的.csv文件。2657A提供創(chuàng)建測(cè)試序列的兩種附加工具:測(cè)試腳本生成器應(yīng)用(用于創(chuàng)建、修改、調(diào)試、運(yùn)行和管理TSP腳本)和基于IVI的LabVIEW®驅(qū)動(dòng)程序(簡(jiǎn)化了將2657A集成至LabVIEW測(cè)試序列)。測(cè)試腳本生成器應(yīng)用的新調(diào)試功能使測(cè)試項(xiàng)目開發(fā)更方便并且更有成效。

ACS軟件基礎(chǔ)版也是元器件特性分析的一個(gè)選件。最新發(fā)布版具有的豐富特性便于分析高電壓和大電流元器件。已更新的附帶測(cè)量庫(kù)用于支持高壓2657A和大電流2651A高功率數(shù)字源表的直流和脈沖工作模式。通過(guò)測(cè)試大多數(shù)器件的輸入、輸出和傳輸特性,這些測(cè)量庫(kù)支持FETs、BJT、二極管、IGBTs等各種功率器件。一種特殊的“追蹤模式”用簡(jiǎn)單滑動(dòng)條實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器電壓或電流輸出的實(shí)時(shí)控制。

靈活、準(zhǔn)確度高的連接和探測(cè)方案

2657A能通過(guò)兼容現(xiàn)有高壓測(cè)試應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)安全高壓(SHV)同軸電纜連接至測(cè)試系統(tǒng)的其它儀器。但是,對(duì)于需要從測(cè)量?jī)x器的小電流測(cè)量中實(shí)現(xiàn)性能最大化的應(yīng)用而言,吉時(shí)利還提供了專門的高壓三軸(防漏電)的連接以最佳化2657A的測(cè)量準(zhǔn)確度。

新型8010高功率器件測(cè)試夾具選件能連接高達(dá)3000V或100A的測(cè)試封裝高功率器件,可以更安全、更容易地配置包含高電壓2657A,一臺(tái)或兩臺(tái)大電流2651A測(cè)量?jī)x器以及多達(dá)3臺(tái)低功率SMU儀器(其它2600A系列儀器或4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng))的器件測(cè)試系統(tǒng)。除了標(biāo)準(zhǔn)的香蕉頭跳線外,8010的后面板示波器和散熱探針端口簡(jiǎn)化了DUT深入特性分析的系統(tǒng)集成。8010具有完整的安全互鎖功能。為防止在發(fā)生器件故障時(shí)損壞測(cè)量?jī)x器,8010的集成保護(hù)電路防止2600A系列儀器的較低電壓輸入端口被2657A輸出的高壓損壞。而且,獨(dú)立保護(hù)模塊簡(jiǎn)化了多臺(tái)SMU與第三方探測(cè)臺(tái)、元器件機(jī)械手或其它測(cè)試夾具的連接。
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