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LED檢修和LED電源設計實踐經(jīng)驗分享,別等了

發(fā)布時間:2015-12-11 責任編輯:sherry

【導讀】今天小編特別整理了一些在LED檢修和LED電源設計過程中的實用經(jīng)驗,通過問答的形式與各位新人工程師們一起分享,下面就讓我們一起來看看吧。
 
在LED電源產(chǎn)品的設計過程中,工程師們需要處理的絕不僅僅是電路設計問題,更多的是LED電源的驅動方案選擇、LED的壽命維系以及后期的維護和檢修工作等。今天小編特別整理了一些在LED檢修和LED電源設計過程中的實用經(jīng)驗,通過問答的形式與各位新人工程師們一起分享,下面就讓我們一起來看看吧。
 
第一個問題:在設計LED電源產(chǎn)品時,怎么做才能設計出高品質(zhì)LED驅動電路呢?
 
相信很多從事LED電源設計的工程師們都非常清楚,LED是目前世界上所研發(fā)的一種長壽命的電子元件,理想狀況下的LED其工作壽命可達50000小時,但應用電路設計不合理、LED電源散熱性設計不好等因素,都會影響它的使用壽命。而面對這一問題,使用能夠省去電解電容器的新一代LED驅動IC,是一種切實可行的解決方案。
 
對于從事LED電源及周邊產(chǎn)品研發(fā)的工程師們來說,在設計新一代的驅動IC時,必須要打破以往傳統(tǒng)的DC-DC拓撲結構設計思維,可以采用恒功率、摒棄磁滯控制的降壓型設計思路來進行新產(chǎn)品研發(fā),采用定頻定電流控制也是一個好辦法。除此之外,高品質(zhì)的LED驅動電路電路應力求簡潔,減少元器件的使用數(shù)量,并有效提高PWM控制器的占空比等。滿足以上條件,所設計的新一代驅動IC才能夠滿足高品質(zhì)驅動電路的設計需求。
 
第二個問題:LED被靜電擊穿的原理是什么樣子的?造成擊穿的原理是怎么回事呢?
 
在進行LED電源的調(diào)試過程中,相信工程師們都曾經(jīng)遇到過接通樣機后,LED元件被擊穿的情況,這其中有相當一部分是被靜電所擊穿的。LED作為一種半導體,其本身的PN結是直接裸露在外頭的,很容易接觸靜電。當LED兩個電極上極性不同的電荷積累到一定的程度,又得不到及時釋放時,此時電荷能量一旦超過LED芯片最大承受值,電荷將以極短的瞬間在LED兩個電極層之間進行放電,并在導電層之間局部會形成1400℃以上的高溫,高溫將會把導電層之間熔融成一些小孔,這就是我們在LED電源測試過程中,常遇到的LED擊穿現(xiàn)象了。
 
在進行LED電源的新產(chǎn)品樣機測試時,一旦遇到LED元件被靜電擊穿的現(xiàn)象,說明所設計的電路中有不合理的因素存在,此時工程師需要及時的進行電路設計調(diào)整并重新測試。
 
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